工作原理

X射線射到電鍍層表面，產生X射線熒光，根據熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及厚度，，測量鍍層范圍廣，適合細微面積及超薄鍍層的測量。

原理圖

X射線電鍍層測厚儀產品優勢

x射線電鍍層測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理
可快速對樣品做定性分析
對樣品可做半定量或準定量分析
譜線峰背比高,分析靈敏度高
不破壞試樣,無損分析
試樣形態多樣化(固體、液體、粉末等)
設備可靠、維修、維護簡單
便捷、低廉的售后服務保證
快速：一般測量一個樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進行簡單處理。
無損：物理測量，不改變樣品性質
準確：對樣品可以分析
直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快
環保：檢測過程中不產生任何廢氣、廢水

X射線電鍍層測厚儀基本參數

x射線電鍍層測厚儀針對不規則樣品進行高度激光定位測試點分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過軟件操作樣品移動平臺，實現不同測試點的測試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導體探測器，實現對多鍍層樣品的精準分析；
內置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態；
高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm
移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

測試實例

測試對象：LED引腳

儀器：Thick800A
測定步驟：
步：新建Ag/Ni/Cu/Fe鍍層標準曲線
第二步：確定測試時間：30S
第三步：測試其重復性得出相對標準偏差

x射線電鍍層測厚儀測試譜圖

LED引腳Ag/Ni/Cu/Fe 三鍍層重復性測試數據